凱思隆科技股份有限公司
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產品介紹
Various Measurement Solutions
Probe Station / Micropositioner
Active Probe (GGB PicoProbe)
Low Cost Effective SMU (Source Meter)
Low Cost CV Measurement System
High/Low Resistance Measurement System
Keithley Instrument
PLED/OLED Functionality Test System
Probe Card Maintenance Service
最新消息
產品介紹
各種電性量測方案  > 

精密量測四步驟(量測誤差的可能原因與改善方式)
可參閱 http://www.keithlink.com/ugC_News_Detail.asp?hidPage1=1&hidNewsCatID=1&hidNewsID=38 
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四點探針薄膜量測 Four Point Probe Sheet Resistivity Measurement
太陽能電池效率量測系統 Solar Cell Efficiency Measurement
太陽電池效率量測系統 Solar Cell Efficiency Measurement
高電壓/高電流IV量測系統High Current/High Voltage I-V Test System (Solar)
綠色能源轉換效率IPCE量測方案Green Power IPCE Measurement
三端元件(MOSFET)電壓電流I-V量測系統 MOSFET IV
雙端元件(MOS)電壓電流IV量測系統 MOS I-V Measurement
低成本電壓電流量測系統 Low Cost IV measurement
電容電壓量測方案 CV Measurement
超低電阻量測 Low Resistance Measurement(0.1uΩ min.)
高電阻量測 High Resistance Measurement
線材最大承受電流與四線式電壓-電流-電阻量測Max Current and IVR (4wire) Measurement for Wire
高壓量測應用與IV軟硬體整合Chamber-High Voltage Measure Solution
定電壓(變電壓)下I-t(電流-時間)量測方案I-t Measurement
R-T(電阻-溫度)量測方案 R-T Measurement
FED高電壓電流量測(FED三端元件量測)
量產用凸塊電阻量測解決方案Bump resistance measurement for production line
LED Vf/Vr/Il量測 LED Vf/Vr/Il Measurement
TLM 接觸電阻量測/TLM 多點電阻量測(TLM Measurement)
LIV量測系統 LIV Measurement
OLED面板AC/DC驅動測試系統OLED Panel AC/DC Driving Test System
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